Bernie Meyerson, de CTO (chief technology officer) van IBM, zei tijdens het International Electronics Forum in Praag dat het traditionele schalen van bestaande lithografieprocessen is spaakgelopen. Ergens tijdens de overgang van de het 130nm- naar het 90nm-proces bleek dat alleen het verkleinen van het proces niet de gewenste winst opleverde zoals dat eerder het geval was. Dit komt vooral omdat de dikte van de isolatielaag tussen de gate en het kanaal van een FET door het steeds verder verkleinen zo dun is geworden dat deze flink lekt en daarnaast een niet-lineair gedrag vertoont.
Meyerson stelt dan ook dat de huidige nummering van processen, waarbij het nummer een direct verband heeft met het kleinste detail dat er mee gemaakt kan worden, nog maar weinig waarde heeft. Tenzij er flink wat nieuwe uitvindingen worden gedaan, heeft verder verkleinen ging zin meer. Dit was al te merken met de overstap richting 90nm, wat in veel gevallen gecombineerd werd met andere technologieën als silicon on isolator en strained silicium. Het is dus erg belangrijk dat de micro-elektronica-industrie op zoek gaat naar andere manieren en materialen om transistors te maken als men in de toekomst nog kleinere chips wil maken.
